Étape 2: Le Circuit
Le circuit est assez facile.
Tout d’abord, il y a l’Arduino Nano. En raison du nombre de ports disponibles le maximum de pins à tester est 16 (ce qui est suffisant pour la plupart IC). Pour y parvenir, la communication de l’écran LCD et de l’EEPROM contenant les données de test se faite via I2C. Le Nano reprend la communication avec l’ordinateur pour afficher les résultats de tests détaillés.
L’écran LCD est un simple affichage standard de 16 x 2 incluant un convertisseur I2C, donc avoir besoin seulement de deux broches de l’arduino.
Les données de test sont stockées dans une série I2C EEPROM AT24C512. Ici, un script est stocké qui a été testé par étapes. Pour chaque type d’IC une séquence d’entrées logiques pour définir et sorties à prévoir. Dans le cas où les résultats ne correspondent pas aux attentes, le script va sauter à la prochaine partie possible. Dans la version actuelle l’EEPROM doit être programmé séparément via un programmeur. Je n'ai pas trouvé une solution de 25kbytes de transfert de données via le terminal série.
Le script de test est en texte clair, donc peut être modifié facilement. La syntaxe est dans l’esquisse de l’arduino.
Tout en testant plusieurs signaux sont définies à la partie testée qui ne correspondent pas à la spécification de la partie (p. ex. faible est définie comme une entrée à une broche qui agit comme un rendement élevé) car toutes les combinaisons possibles sont testés. Pour éviter la surcharge de l’Arduino et la partie, toutes les connexions sont effectuées par des résistances de 680 Ohms. Cela crée beaucoup de « au-dessous de la norme » signaux conduisant ainsi à des sorties aléatoires de l’IC testé. Pourtant, si les maches IC à testé des signaux, la sortie du ci testé est utilisable.
Le test ist a commencé avec un seul interrupteur relié à une des entrées analogiques signle utilisation.
